ICT測(cè)試治具的測(cè)試閱讀時(shí)間有什么方法？公司電子總結(jié)出以下內(nèi)容，希望對(duì)你有幫助，從內(nèi)存中讀取所需的數(shù)據(jù)，內(nèi)存訪問(wèn)時(shí)間的ICT測(cè)試治具。方法測(cè)試治具測(cè)試閱讀時(shí)間一般如下：

1，對(duì)單元寫數(shù)據(jù)0”；

2，寫“1單元B”的數(shù)據(jù)；

3，堅(jiān)持閱讀使讀值；

4，基本上是在記憶的持續(xù)時(shí)間的ICT測(cè)試過(guò)爐治具的測(cè)量數(shù)據(jù)

5，轉(zhuǎn)換時(shí)間從地址轉(zhuǎn)換來(lái)轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)之間的時(shí)間；

6，恢復(fù)時(shí)間之后所寫的，寫的讀取存儲(chǔ)單元必須等待時(shí)間；

7，暫停時(shí)間，存儲(chǔ)單元可以保持其狀態(tài)的時(shí)間。

8，刷新時(shí)間刷新存儲(chǔ)器；

9，建立的時(shí)間——變換輸入的數(shù)據(jù)必須被鎖定在輸入時(shí)鐘的時(shí)間提前；

10，堅(jiān)持以輸入的數(shù)據(jù)必須堅(jiān)持的時(shí)間鎖定的時(shí)鐘輸入。

同時(shí)，改變ICT測(cè)試治具的測(cè)試周期，通過(guò)反復(fù)運(yùn)行功能測(cè)試。測(cè)試設(shè)備的速度，周期和頻率通常是通過(guò)二進(jìn)制搜索法的快速變化，頻率測(cè)試發(fā)現(xiàn)該設(shè)備可以運(yùn)行。

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